（配件）Panametrics35DL超声波测厚仪

Panametrics 35DL超声波测厚仪在大多数应用中都可应用35型和35DL型35型和35DL型超声波测厚仪使用频率范围为2.25～30 MHz的探头，因此这些通用型测厚仪可完成大多数从极薄到极厚材料的厚度测厚。一般来说，探头频率越高而直径越小，对较薄或弯曲的工件测量的精度越高。

美国泛美超声波测厚仪系列的特性

所有型号的标准配置均包含声速和减缩率测量。• 可测厚度范围宽：0.08 mm～635.0 mm(0.0030 in.～25.0 in.)，取决于仪器和材料。• 采用接触式、延迟线式、水浸式探头。• 自动调用功能可调用默认设置和自定义设置。• 手持式，仅重0.24公斤(8.5盎司)。• 最小/最大模式• 高-低报警• 英制和公制显示(英寸或毫米)• 多种语言用户界面• 长效电池

• 从薄到厚的大多数材料• 薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道、及板材• 薄如0.10毫米(0.004英寸)的金属容器、钢卷材及机加工部件• 汽缸孔、涡轮叶片• 玻璃灯泡、瓶子• 薄玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料• 半径较小的曲面部分或容器• 分辨率可达0.001毫米或0.0001英寸